晶振測試主要方法主要經(jīng)歷了早期的晶體阻抗計，到目前主流的網(wǎng)絡(luò)分析儀方案。早期的晶體阻抗計檢定依據(jù)為JJG(電子) 05053-1995 晶體阻抗計檢定規(guī)程，代表產(chǎn)品有安捷倫HP4915A/4916A，S&A 150等；經(jīng)歷了約20年的發(fā)展，2023年國際公認(rèn)的測試方法為網(wǎng)絡(luò)分析儀測試方案，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)為GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》，典型產(chǎn)品有智慧源的GDS-80系列等。

工作原理

功能配置

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自動測試功能；

超值報警功能

上位機軟件通信功能

尺寸參數(shù)

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250*280*150mm

產(chǎn)品特點

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1. 中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定

2. 掃描范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm）

3. 負(fù)載電容：1-100P 任意設(shè)定

4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm） 測量精度：±5ppm

5. 串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）

6. 負(fù)載電容CL測量范圍：1-200PF

7. 時基誤差：±1ppm

8. 負(fù)載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

注意事項

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1.設(shè)備需要定期進行PI網(wǎng)絡(luò)校準(zhǔn)

2.設(shè)備需要定期進行頻率校準(zhǔn)

問題一：怎么測量一個晶振的好壞? 一個小技巧：沒有示波器情況下如何測量晶振是否起振。
可以用萬用表測量晶振兩個引腳電壓是否是芯片工作電壓的一半，比如工常電壓是5V則是否是2.5V左右。另外如果用鑷子碰晶體另外一個腳，這個電壓有明顯變化，證明是起振了的

問題二：如何用萬用表測量晶振 將晶體從PCB上拆下，用萬用表R×10k擋測量引腳兩端，好的晶體應(yīng)為無窮大。但這樣也只能測量晶體的絕緣電阻，僅此而已。事實上，晶體的絕緣電阻大于500MOhm，這個級別的絕緣萬用表也是測量不了的。真要想測量絕緣電阻，需要用到絕緣電阻測試儀。