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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-1996方法1005A、1006、1015A,微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005方法1005.1、1006、1015.1,半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB128A-1997方法1026、1027,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360A-1996方法108,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360B-2009方法108,微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883H：2010 方法1005.9、1006、1015.10,存儲(chǔ)壽命JESD22-A103C：2004,壽命試驗(yàn)JESD22-A108C：2005
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