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北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室
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電氣電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)檢測
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對應(yīng)法規(guī)：
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)》 GJB150.4-1986,《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第4部分：低溫試驗(yàn)》GJB150.4A-2009,《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》GB/T2423.1-2001,《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)》 GJB4.3-1983,《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn)》 GJB4.4-1983,《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》 GJB367A-2001第4.7.27條
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