
中國前五排名
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GB/T16921-2005金屬鍍層厚度測量-X熒光光譜法
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《磁性和渦流式覆層厚度測量儀》JB/T8393-1996
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波長范圍:360~740nm波長間隔:10nm反射分辨率:0.001%測量時間:
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無損檢測接觸式超聲脈沖回波法測厚方法GB/T11344-2008