輻射發(fā)射測(cè)試涉及測(cè)量產(chǎn)品無(wú)意產(chǎn)生的發(fā)射的電磁場(chǎng)強(qiáng)度。任何數(shù)字電路中的開(kāi)關(guān)電壓和電流都會(huì)產(chǎn)生輻射，唯一的問(wèn)題是：輻射有多大，它們是否符合輻射限制? 　　那么EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室如何測(cè)量輻射? 　　輻射發(fā)射測(cè)試方法 　　EMC測(cè)試指南 ： 　　輻射發(fā)射電磁波不會(huì)以漂亮的球形圖案延伸出您的產(chǎn)品。 　　排放往往是相當(dāng)方向性的，因此測(cè)試實(shí)驗(yàn)室必須改變接收天線的高度在1到4米之間以及旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤(pán)。 　　接收天線接收來(lái)自EUT的信號(hào)以及離地反彈。為了提高測(cè)量精度，地面覆蓋有電磁反射表面(鋁，鋼，金屬絲網(wǎng)等)，并且該接地平面必須相對(duì)平坦。 　　測(cè)試實(shí)驗(yàn)室將掃描感興趣的頻段并尋找接近極限的發(fā)射。使用稱(chēng)為“最大化”的過(guò)程(如下所述)，測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重點(diǎn)關(guān)注這些排放中的每一個(gè)，并量化場(chǎng)強(qiáng)的幅度。 　　 　　EMC測(cè)試 　　輻射發(fā)射測(cè)試場(chǎng)所的類(lèi)型： 　　有兩種主要類(lèi)型的測(cè)試站點(diǎn)用于測(cè)量電子產(chǎn)品的輻射發(fā)射。這些測(cè)試地點(diǎn)的目標(biāo)是準(zhǔn)確測(cè)量產(chǎn)品的排放，并確保它們符合相關(guān)限制。 　　全球有超過(guò)1000個(gè)FCC列出/認(rèn)可的EMC測(cè)試站點(diǎn)，每個(gè)測(cè)試站點(diǎn)至少包含一個(gè)下述測(cè)試站點(diǎn)。該數(shù)字不包括未在FCC注冊(cè)的任何EMC測(cè)試站點(diǎn)。 　　開(kāi)放區(qū)域試驗(yàn)場(chǎng)(OATS) 　　“OATS”或開(kāi)放區(qū)域測(cè)試站點(diǎn)是最常見(jiàn)的輻射發(fā)射測(cè)試站點(diǎn)。 　　它們通常構(gòu)造成符合ANSI C63.4(北美和其他地區(qū))和CISPR 16-1-x(歐洲和其他地區(qū))的要求。 　　天線與被測(cè)設(shè)備(EUT)之間的距離通常為3米，10米或30米。測(cè)量距離很重要，因?yàn)槟枰_保測(cè)量遠(yuǎn)場(chǎng)中的場(chǎng)強(qiáng)而不是近場(chǎng)。 　　在30 MHz時(shí)，波長(zhǎng)為10米。當(dāng)您接近近場(chǎng)或菲涅耳區(qū)域(近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)之間的區(qū)域)時(shí)，電場(chǎng)可能還不穩(wěn)定并且測(cè)量將不太準(zhǔn)確。 　　一些標(biāo)準(zhǔn)要求特定的分離，而另一些標(biāo)準(zhǔn)允許使用兩種或更多種不同的分離。因?yàn)殡姶艌?chǎng)的強(qiáng)度隨距離而變化，所以在每次測(cè)量間隔時(shí)重新計(jì)算極限。 　　雖然通過(guò)考慮大約20dB /十倍的外推因子來(lái)比較不同測(cè)量距離之間的測(cè)試測(cè)量通常是可接受的，但實(shí)際上 存在使得在不同類(lèi)型的設(shè)施處的測(cè)量的比較成問(wèn)題的問(wèn)題。 　　半電波暗室 　　半消聲室(或簡(jiǎn)稱(chēng)SAC)就像OATS一樣，只有它被安置在屏蔽(金屬)房間內(nèi)。 　　這非常有用，因?yàn)樗梢运p背景(環(huán)境)無(wú)線電信號(hào)，因此更容易區(qū)分產(chǎn)品和背景信號(hào)。 　　SAC內(nèi)部襯有RF吸收材料，使反射信號(hào)保持最小。 　　如果沒(méi)有這些吸收器，測(cè)量天線將接收來(lái)自墻壁和天花板反射的無(wú)法量化的信號(hào)貢獻(xiàn)，使得測(cè)量非常不準(zhǔn)確。