牛津儀器CMI900無損電鍍膜厚測量儀，專業測量金、銀鈀銠鎳銅錫等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速精準無損，業內廣受好評，客戶應

　　用廣泛在五金連接器PCB等行業以形成行業測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯系測量量樣品洽談往來本公司經營多年工程師經驗豐

　　富，商業合作個方式靈活。同時經營原裝OXFORD X光射線管ETP探頭等配件，以及ROHS檢測設備。聯絡熱線：158 1865 3509 唐生 電郵：369823789@qq.com

　　儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900主機的全面自動化控制，PCB五金LED連接器表面處理等行業技術參數：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業A CMI 900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15種元素。B：精確度領先于世界，精確到0。025um (相對與標準片)C：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀