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檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 宿遷高低溫老化試驗(yàn)箱|宿遷高低溫溫度試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則型號(hào)GDW-50GDW-100GDW-150GDW-225工作室尺寸:mm350×350×450400×450×550500×500×600500×600×750型號(hào)GDW-408GDW-800GDW-1000GDW-1500工作室尺寸:mm650×750×850800×1000×10001000×1000×10001500×1000×1000??技術(shù)參數(shù)溫度范圍A型-20℃～+100℃(+150℃)/??? B型 -40℃～+100℃(+150℃)C型?-70℃～+100℃波動(dòng)度≤±0.5℃均勻度≤2℃升溫速率1.0～3.0℃/min降溫速率?0.7～1℃/min
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