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EMC NSG3040雷擊浪涌測試儀

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品　　牌：
特測

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出廠價：
99999 元/套

主要規格：
4.4KV

用　　途：
電子產品測試

EMC NSG3040雷擊浪涌測試儀 EMC雷擊浪涌|群脈沖|電壓跌落綜合測試儀|測試系統，用于CE應用的靈巧型4kV解決方案，推出的NSG3040是Teseq公司新推出的一臺用于在抗擾度測試中模擬電磁干擾影響的發生器，它操作簡便、具有多種功能，滿足企業、國內和國際標準的要求（包括最新的EC/EN標準）。NSG3040采用了新的Teseq設計理念，使得特測的多功能發生器產品系列更加完整。 NSG3040系統設計于滿足用于CE標志測試的傳導EMC測試需要，它一般包括組合波、EFT脈沖和PQT。強大的擴展能力使得該系統具有更廣泛的應用范圍。成熟、獨特的“主—從”概念技術使得單個脈沖模塊能夠獨立校準，并將校準資料和修正系數存儲于從控制器上。新模塊安裝簡便，無需返回整個系統進行校準。由于采用技術先進的組件，NSG 3040在開關切換技術和相位精度方面建立了新的標準，并且超越了現行標準的要求。因為采用了具有高質、對比度極佳的大型7”彩色觸摸板顯示，NSG3040的操作非常簡便。既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調整鍵的滾輪來進行輸入。此外，在開發環境下，通過內置的DTA功能（直接測試程序調用），幾個“點擊”就能激活標準測試，并能迅速、準確地得到結論性結果。各參數值均為高度可視的，通過大的觸摸輸入鍵可以迅速選擇并修改這些參數值。該操作不需要觸控筆，測試參數可以迅速、簡便地編輯出來。可以簡便地進行多步驟測試程序的增加、程序次序及參數值的修改。選擇“高級模式”后，用戶可以在測試中使用滾輪進行手動參數修改—有效、迅速地簡化激活關鍵閾值的方法。通過易操作的SD讀卡器可進行固件快速下載。可以完整的保存由用戶指定的測試。在存儲空間不夠的特殊情況下，可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的測試文件可被輕松復制進更大內存的SD卡中。 NSG3040具有以太網端口，可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試程序并允許為各種類型的測試編寫復雜的測試序列。在測試進程中，操作人員可以進行觀察并在測試操作中生成測試報告，以此增加長期測試的效率。組合波脈沖1, 2/50 ~ 8/20MS(組合浪涌脈沖) 脈沖符合EC/EN 61000-4-5標準參數/值脈沖電壓（開路）： +200 V至4.4 kV（以1 V為步長）脈沖電流（短路）： +100 A至2.2 kA 阻抗： 2/12 Ω 極性：正/負/交替脈沖重復周期： 10 s至600 s（以1 s為步長）測試時間： 1至9999個脈沖，不間斷相位同步：異步、同步0至359°（以1°為步長）耦合：外部/內部脈沖群(EFT)5/50 ns 脈沖符合EC/EN 61000-4-4標準參數/值脈沖幅度： +200 V至4.8 kV（以1 V為步長）—開路 +100 V至2.4 kV（50 Ω匹配系統）脈沖群頻率： 100 Hz至1000 kHz 極性：正/負/交替重復時間： 1 ms至4200 s (70 min) 脈沖群時間： 1 us至1999 s，單脈沖，不間斷測試時間： 1 s至1000 h 相位同步：異步、同步0至359°(以1°為步長) 耦合：外部/內部電壓暫降&電壓跌落符合EC/EN 61000-4-11標準參數/值電壓暫降&電壓跌落：從EUT輸入電壓跌至0 V、0% 帶有可選自耦變壓器的Uvar：取決于型號（VAR 650x）帶有步進式變壓器的Uvar： 0、40、70、80% (INA650x) 峰值沖擊電流能力： 500 A (230V時) 開關時間： 1至5 MS（100 0負載）周期時間： 20 us至1999 s、循環1至99’999次測試時間： 1 s至70’000 min，1至99’999個周期，不間斷重復時間： 40 MS至35 min、循環1至99999次相位同步：異步、同步0―359°（以1°為步長）尺寸/重量 NSG3040的尺寸： 449 (17.7”) x 226 (8.9”; 5 HU) x 565 mm (22.2”), W x H x D NSG3040的重量：約25 kg（55 lbs）可選項 CDN 8014/8015 脈沖群用容性耦合鉗 CDN 163 脈沖群耦合網絡，每相 100 A（所有線路與參考地耦合） CDN 117/118 用于信號線和數據線的耦合網絡（浪涌） CAS 3025 脈沖群/EFT檢查裝置 MD 200 電壓差分探頭7 kV MD 300 電流探頭5 kA

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