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CMI 200系列CMI 243膜厚儀

CMI 200系列CMI 243膜厚儀客服熱線：0755-27198826-688/13510818016 關鍵字：測厚儀，膜厚儀，涂層厚度，CMI 233測厚儀，電鍍測厚，CMI150測厚儀,X射線熒光測厚儀 CMI 243是一款專門為測量磁性金屬上的(如鋅、鎳等)涂鍍層厚度而設計的便攜式膜厚儀。獨特的渦電流測試方法使測量更精確。高端配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI 243在設計上更加合理、可靠、實用。產品介紹 ●ECP-M探頭：鋅、鎳均可以測量 ●準確度：±1% ●測量范圍：0.08-1.50mils(2-38μm) ●分辨率：0.01mils (0.1μm) ●適用標準：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 ●單位：英制和公制單位自動轉換 ●統計數據顯示：讀取次數，平均值，標準差，最高值，最低值，最終值 ●記憶儲存：12,400個數據儲存 ●接口：RS-232串行端口，波特率可調，可接打印機或計算機 ●顯示：液晶顯示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm) ●電池：9V干電池或可充電電池。 ●尺寸：57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm) ●重量：9盎司/0.26kg, (包括電池重量在內) ●品牌及產地：英國牛津儀器；產地：美國牛津儀器常駐中國機構提供售后服務和技術支持

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許金領