檢測認證人脈交流通訊錄
- 韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀 別名：X光測厚儀 X光熒光測厚儀 X-RAY測厚儀 別名：X光測厚儀 X光熒光測厚儀 X-RAY測厚儀 鍍層測厚儀 電鍍測厚儀 無損測厚儀 分層測厚儀 覆蓋層測厚儀；韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀 型號：XRF 2000L XRF 2000H XRF 2000PCB XRF2000 L XRF2000H XRF2000PCB XRF-2000L XRF-2000H XRF-2000PCB XRF-2000 Type L XRF-2000 Type H XRF-2000 Type PCB 韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀 產品介紹 X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。 應用 : 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍： Ti(22)~U(92 )。 行業 : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業、電鍍類等。 特色 : 非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。 可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。 相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。 全系列獨特設計樣品與光徑自動對準系統。 標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。 準直器口徑多種選擇，可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。 移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差 。 獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。 雷射對焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。 光學2 0X 影像放大功能，更能精確對位。 單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 優於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的最佳優勢。 儀器正常使用保固期一年，強大的專業技術支援及良好的售后服務。 測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號 Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀 是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能， 其物點為：高分辨率，固態探測器; 可分析超薄樣品 分析有害物質，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用; 可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析； 電鍍溶液分析； 定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規則形狀； 貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）； 自動過濾器，多準直儀(五個準直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺； 性價比超強的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器 儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg (net) 可測量樣器大小：W550mm D550mm H30mm 韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能優越,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度.
