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布魯克手持式礦石分析儀

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快速、高效、準確；探礦、找礦、評估的最理想工具。測量范圍(Mg-U) Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd, Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦例如：鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等主要應用主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦；還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿；粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。對不規則或很小的樣品都能快速完成識別測試。主要特性：簡體中文界面 Windows Mobile5.0操作系統開機后不需校準就可直接測量采用布魯克專利技術的XFlash®SDD檢測器分析元素最小從Mg開始，達40多種。分析范圍：ppm級至50%以上（與礦樣種類有關）實時分析數據和圖譜顯示 XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣測量完全無損，不受樣品形狀限制儀器自動校準，自動存儲測量數據，無需人工干預主機一體化設計，高強度密封，防水、防塵，抗沖擊可選擇一鍵式定時測量內置Bruker專業操作軟件，計算和顯示速度快儀器適應高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環境在開機狀態下長時間不測量時，儀器會自動進入待機狀態，以節省電源和保護儀器 X射線管耐用性強，采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命選配GPS定位系統，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖萬能FP模式，適于各種礦石樣品，大大縮短現場工作時間。自動補償元素間干擾。免費軟件升級對礦石開發與含量分析進行快速、精確分析野外操作時，自由攜帶，非常方便技術規格重量 1.5kg 尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) 激發源 X射線管，Ag靶，40kV 檢測器 XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快；能量分辨率高：145eV, 計數率：250kcps　冷卻系統 Peltier半導體冷卻系統電源交、直流供電；2塊充電鋰電池，可連續工作8-12小時工作條件溫度：-20℃～+55℃　　濕度：0～95% 電池充電器交流充電器：110/220V，50/60Hz 計算機/顯示器 240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調; 觸摸屏數據傳輸 USB，無線藍牙，SD卡數據存儲主機：512MB 存儲卡：CF/SD卡，2GB，能存儲幾十萬個光譜圖譜和測量數據熱表面適配器熱表面適配器，可測量500℃高溫樣品安全密碼保護，設有多級安全鎖運輸箱減震、抗壓、防水、密封儀器箱支持語言包括中、英文在內12種語言(用戶自選) 質保期獲得認證整機2年，終身維護、保養、維修 CE、TUV、IECEE、ISO9001

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田經理

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