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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
低溫試驗/低溫測試/高低溫試驗/高低溫測試等環(huán)境可靠性測試！
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對應(yīng)法規(guī)：GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗A: 低溫
IEC
CNAS認(rèn)可項目：是 - 低溫試驗 [項目介紹] 本試驗是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。 [業(yè)務(wù)范圍] 1. 計算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等 2.電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等。 3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備； 4.其他：包裝箱、運輸設(shè)備等。 [測試參考標(biāo)準(zhǔn)] GB/T 2423.1（下載查看），IEC 60068-2-1（下載查看），EIA 364（下載查看）， MIL-STD-810F等。
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