冷熱沖擊試驗(yàn)

冷熱沖擊即高低溫沖擊測試，是將試驗(yàn)樣品露在高溫和低溫的連續(xù)交替環(huán)境中，使其在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷溫度急劇變化，考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性。冷熱沖擊測試是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。可以說冷熱沖擊試驗(yàn)箱在驗(yàn)證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面應(yīng)用的頻度僅次于振動與高低溫試驗(yàn)

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測試范圍

電子電器零組件、自動化零部件、機(jī)械零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)及工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化

測試目的

冷熱沖擊試驗(yàn)主要驗(yàn)證樣品在高溫和低溫快速變化條件下使用和儲存的狀況，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)

方法標(biāo)準(zhǔn)（部分）

GB/T2423.22-2012 試驗(yàn)N：溫度變化

GB-T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GJB150.3-1986 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法--高溫試驗(yàn)

GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

測試費(fèi)用

冷熱沖擊測試的價(jià)格是按測試時(shí)長來報(bào)價(jià)，不同大小的產(chǎn)品對應(yīng)使用不同大小的溫度箱，不同大小的溫度箱有不同的測試價(jià)格，按照時(shí)長計(jì)算。另外測試時(shí)間短會涉及基本的開機(jī)費(fèi)

檢測設(shè)備及儀器