服務簡介

XRF熒光光譜儀器由激發源X射線管和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為11號元素（鈉Na）到92號元素（鈾U）

檢測項目

對樣品進行定性半定量分析

測試時需要添加硼酸，樣品是否回收請留意！

熒光光譜分析，需要提供相關譜圖紙質版給測試老師，以及具體的參數。

樣品要求

1. 樣品干燥，并且試樣在X射線照射下應該穩定、不變形、不引起化學變化。

2. 固體：尺寸要求(mm) 長×寬：10×10mm～200×200mm 高：<100mm。提供0.3g-1g的樣品量可提高準確性！

3. 粉末：樣品均勻、粒度>200目 樣品量>0.1g，盡量提供約0.3g的樣品以提高準確性。

4. 液體：樣品無揮發性、腐蝕性，粘稠樣品不可測。

5. 樣品中吸附的二氧化碳和水會對測試結果有影響，請確認樣品的狀態以及是否需要屏蔽CON等元素（下單時備注）。