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儀器名稱：
X射線熒光光譜分析儀（XRF）
型號：
帕納科Axios,銠靶
檢測項目：
分析元素：定性可以做到F，定量可以到Na
應用范圍：
可進行固體、粉末等多種樣品的定性分析和定量分析。
制樣要求：
1.定性分析。粉末樣品，粒度不超過180目，需1g以上；塊體樣品，要求表面平整光潔無污染，直徑34-38 mm，厚度為3-5 mm的圓柱；
2.定量分析。只能測試粉末，需3-5 g；
結果可以以單質或氧化物形式給出。
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