東莞鍍層厚度檢測(cè)丨電鍍膜厚測(cè)試丨鍍層分析行業(yè)領(lǐng)先 -專(zhuān)業(yè)快速

       安普檢測(cè)的服務(wù)優(yōu)勢(shì)在于以更短的檢測(cè)周期和更低的服務(wù)價(jià)格，為客戶(hù)節(jié)約成本和周期，幫助客戶(hù)快速獲取準(zhǔn)確有效數(shù)據(jù)，并為客戶(hù)提供后期技術(shù)服務(wù)支持。安普檢測(cè)作為平臺(tái)化運(yùn)營(yíng)品牌，與國(guó)內(nèi)外多家實(shí)驗(yàn)室建立了良好的合作關(guān)系，旨在為客戶(hù)、行業(yè)提供更優(yōu)質(zhì)的檢測(cè)咨詢(xún)服務(wù)

鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有 1. 金相法 2. 庫(kù)侖法 3. X-ray 方法。

金相法：

采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。

庫(kù)侖法：

適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類(lèi)為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

X-ray 方法：

適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。

本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1. GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量 顯微鏡法

2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section

3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential

Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)

4. GB/T4955-1997金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量

5. GB/T16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜方法

6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry