日本日立 SU8010   冷場發射掃描電子顯微鏡（SEM+EDS）

主要配置：

能譜儀(EDS)；離子濺射儀（Au-Pd靶）等

主要用途：

用于有機和無機材料的微觀形貌結構的研究，通過觀察微觀形貌以及元素的含量來控制樣品的質量。

主要技術指標：

分辨率：0.3nm；

加速電壓：0.1 ~ 30kV （0.1KV）；

具有高位和低位二次電子探測器；

樣品臺驅動：3軸馬達驅動(包含 兩軸手動)；

物鏡光闌: 4孔可調式，內置加熱自清潔裝置

主要學科領域：

材料科學,礦山工程技術,能源科學技術,航空、航天科學技術

服務技術領域：

新材料及生產工藝和設備,納米材料,其他