高溫檢測 高溫測試標準 高溫實驗機構 高低溫測試廠家

高溫檢測目的：確定軍民用設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性及耐久性。確認材料高溫下的性能。
為能正確觀察與驗證產品在高溫環(huán)境下之熱效應，同時避免因濕度效應影響試驗結果，標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
高溫條件下試件的失效模式 產品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現象。

高溫環(huán)境對產品和設備的影響：

a. 填充物和密封條軟化或融化；
b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減小；
c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學反應等；
e. 材料膨脹造成機械應力增大或磨損增大。

高溫測試原理：在高溫直流負載條件下，被試樣品會受到高溫應力和電應力的雙向作用，其電性能和內部結構 都會有一定程度的變化。試驗后對被試樣品的電性參數及外觀進行檢查，就能判斷被試樣品抵 抗高溫和電流負載的能力。

高溫測試標準：

IEC 60068-2-2:2007《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB4.2-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 高溫試驗》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
GB/T13543-92《數字通信設備環(huán)境試驗方法》
QC/T 413-2002《汽車電氣設備基本技術條件》
YD/T 1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術要求和測試方法》

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