檢測認證人脈交流通訊錄
TEM樣品制備（平面與截面）、TEM微結構分析
這真不是您需要的服務？
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對應法規：TEM樣品制備
CNAS認可項目：是 TEM樣品制備
在材料科學的研究中，TEM樣品制備在電子顯微學研究工作中，起著至關重要作用，是豐常精細的技術工作。要想得到好的TEM結果，首先要制備出好的薄膜樣品。
TEM樣品制備在電子顯微學研究中起著非常重要的作用，傳統的常規制備方法有很多，例如：化學減薄，電牌雙噴，解理、超薄切片.粉碎研磨、FIB聚焦高子束，機械減薄、離子減薄，這些方法都能制備出比較好的薄膜樣品，
TEM樣品類型∶
- 塊狀：用于普通微結構研究；
- 平面-用于薄膜和表面附近微結構研究；
- 橫截面樣品：均勻薄膜和界面的微結構研究；
- 小塊物體∶ 粉末，纖維，納米量級的材料。
我們的TEM樣品制備能力：
- 非定點TEM樣品制備(截面, Si)；
- 定點TEM樣品制備(截面, Si)；
- 非定點TEM樣品制備(平面, Si)；
- 定點TEM樣品制備(平面, Si)；
- 非定點TEM樣品制備(截面, Non-Si)；
- 定點TEM樣品制備(截面, Non-Si)；
- 非定點TEM樣品制備(平面, Non-Si)；
- 定點TEM樣品制備(平面, Non-Si)
