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主板，芯片類產(chǎn)品AEC-Q100測試
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對應(yīng)法規(guī)：AEC-Q100
CNAS認(rèn)可項目：否 - 集成電路應(yīng)力測試認(rèn)證附件標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q100-001 邦線切應(yīng)力測試AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試AEC-Q100-003 機(jī)械模式靜電放電測試AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應(yīng)測試AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試AEC-Q100-006 熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測試AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級AEC-Q100-008 早期壽命失效率（ELFR）AEC-Q100-009 電分配的評估AEC-Q100-010 錫球剪切測試AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測試AEC-Q100-012 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述A測試組室溫測試預(yù)處理室溫測試高溫測試高溫貯存壽命試驗高溫測試功率溫度循環(huán)*有偏溫濕度或高加速應(yīng)力測試溫度循環(huán)高壓或無偏高加速應(yīng)力測試或溫濕度（無偏）室溫和高溫測試邦線拉力高溫測試室溫測試B組測試室溫高溫低溫測試高溫工作壽命試驗室溫高溫低溫試驗室溫和高溫測試早期壽命故障率非易失性存儲器耐久力，數(shù)據(jù)保持能力，工作壽命室溫和高溫測試內(nèi)容較多，各位有需求聯(lián)系我..黃生18718473100 QQ914145532.郵箱chao.chy@163.com
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