首頁 | 門診 | 檢測(cè)認(rèn)證 | 儀器設(shè)備 | 企業(yè)庫 | 專家?guī)?/a> | 標(biāo)準(zhǔn)庫 | TBT研究 | 工業(yè)品商城
機(jī)構(gòu)登錄
機(jī)構(gòu)登錄
檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
NanoSIMS 50L
專門針對(duì)同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針。
在CAMECA 各系列的二次離子質(zhì)譜（SIMS）中，NanoSIMS 50L 因擁有很高的橫向分辨率而與眾不同。儀器設(shè)計(jì)獨(dú)特：一次離子槍與二次離子提取腔體采用光學(xué)共軸設(shè)計(jì)；而磁質(zhì)譜部分也從一開始就采用多接受模式。
關(guān)于檢測(cè)通 | 服務(wù)項(xiàng)目 | 合作中心 | 資訊投稿 | 媒體聚焦 | 聯(lián)系我們 | 客服中心 | 網(wǎng)站地圖 | 友情鏈接
Copyright ? 2010-2016 生意寶檢測(cè)通 版權(quán)所有.浙ICP備14007955號(hào)
浙公網(wǎng)安備 33010602010408號(hào)
地址：浙江省杭州市莫干山路187號(hào)易盛大廈12F 郵政編碼：310012
客服QQ:2804879579 檢測(cè)通QQ群:檢測(cè)資源-詢盤、人脈 319379593
-
檢測(cè)通手機(jī)版 
檢測(cè)通官方微信
檢測(cè)通QQ群