具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。大于3 微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。LW300/LW200外置或內置攝相系統可以方便的連接視屏和計算機進行實時和靜動態的圖像觀察、保存和編輯、打印結合各種軟件能進行更專業的金相、測量、互動教學領域的需要。

瞳距調節范圍：50-75mm。