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半導體器件參數測試儀SC2520

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半導體器件參數測試儀SC2520 一、半導體器件參數測試儀SC2520產品概述半導體器件參數測試儀SC2520是一款通用型分立器件參數測試設備，可測試多種半導體器件的靜態直流參數，測試儀可單機工作，也可連接上位機程控測試，測試速度快，精度高，測試電壓達2.5KV，電流達200A，基本可以覆蓋絕大多數中小功率單管及模塊的測量，測試數據可單機實時讀取，也可上位機生成TXT或EXCEL報表導出，方便用戶使用。二、產品功能半導體器件參數測試儀SC2520主要測試半導體器件的種類和參數如下： MOS：Rdson、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vdss、Idss IGBT：Vcesat、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vces、Ices BJT：Vcesat、hFE、BVcbo、Icbo、BVceo、Iceo、BVebo、Iebo、Vces、Ices DIODE：Vfd、Vr ZENER：Vfd 、Vz TVS：Vfd 、Vz LED：Vfd、 Vr RES：R（針對大電流小阻值取樣電阻） OPTO：Vfd、Ir、CTR、Iceo、Vr、BVceo、Veco MOV：壓變電阻Vc RELAY：Rcontact、Rcoil、V吸合、V釋放三、技術參數項目參數單位電流檔 0~100mA 分辨率 0.01 mA 電流檔 100~1000mA 分辨率 0.1 mA 電流檔 1~10A 分辨率 1 mA 電流檔 10~200A 分辨率 10 mA 脈沖電流檔位四檔檔位步進 0.01 % 脈沖寬度 500 us 開路輸出電壓 ≥60 V 正向壓降測量范圍 0~10 V(100-200A) 正向壓降測量范圍 0~60 V(≤100A) 柵極輸出電壓 ±30 V 柵極漏電流測試范圍 600nA，±6μA ±60μA ±600μA ±6mA ±60mA ±600mA 柵極漏電流帶快速充電功能有耐壓電壓 0~2500 Vdc 耐壓電流 0~2μA 0~20μA 0~200μA 0~2000μA 漏電電流一鍵 zero 校零技術漏電分辨率可達 100pA 可手動按鈕觸發，也可腳踏觸發功能有隔離的 RS-485 通訊端口有 RS-485 接口升級軟件有供電電壓 220 VAC 四、應用領域及場景 >測試分析(功率器件研發設計階段的初始測試) >失效分析(對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案) >選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對) >來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率) >量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試)

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