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NEW 阻抗分析儀ZA57630

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品　　牌：
日本NF

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出廠價：
10000 元/臺

主要規格：
頻率范圍 10 μHz～36 MHz

用　　途：
被動元器件測試

NEW 阻抗分析儀ZA57630 從電子零件、半導體器件到材料的特性評價，應對多樣的阻抗測量需求 ● 基本精度 ±0.08% ● 頻率范圍 10 μHz～36 MHz ● 阻抗范圍 10 μΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT) 阻抗分析儀 NEW 阻抗分析儀ZA57630 “True Value” 測量真正的特性。 ZA57630 ▲ ZA57630 從電子零件、半導體器件到材料的特性評價，應對多樣的阻抗測量需求　　　　基本精度頻率范圍阻抗范圍測量 AC 信號級別 DC 偏置測量時間測量參數 ±0.08% 10 μHz～36 MHz 10 μΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT) 0.01 mVrms～3 Vrms 0.1 μArms～60 mArms ?5 V ～ +5 V/?40 V ～ +40 V (1 kHz以上) 100 mA ～ +100 mA 0.5 ms/point Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dμ, Q, V, I, εs, εs’, εs”,μs, μs’, μs”, FREQUENCY 快速測量業界最快 0.5 ms/point 實現了業界最快的0.5ms/point。縮短生產線的節拍時間，提高測量作業的效率。此外，通過增加設定的測量時間，使測量結果平均化，減輕噪聲的影響。可視需要選擇最合適的測量時間。img01 4種測量模式應對廣泛的DUT IMPD-3T 標準測量模式本模式可以在廣泛的頻率范圍內進行高精度測量。可使用測試線及測試夾具，應對各種形狀的試樣。img02 IMPD-2T 高頻測量模式本模式可以在 10MHz 以上的高頻下進行穩定的測量。使用 N 型連接器進行 2 端子測量，即便配線長，也可以進行穩定的測量。img03 IMPD-EXT 外部擴展測量模式本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進行測量。可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓 / 電流進行單獨使用本儀器無法應對的測量。img04 G-PH 增益/相位測量模式本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號，高精度地測量其頻率響應（增益、相位）。img05 正面面板測量端子阻抗分析儀 NEW 阻抗分析儀ZA57630 特點結合用途配備豐富的功能！以最適合DUT特性的設定，支持高重現性且準確的測量。準確的評價基于實際使用的操作條件。電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發的頻率依賴性，二極管等半導體器件由于 DC 偏置疊加而產生特性變化。要評價真實的特性，重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻，在實際的操作條件下進行測量。特點 ● 掃頻 ● 延遲功能 ● 標記操作 ● 測量條件等的設定 ● 自動高密度掃頻 ● 順序測量 ● 量程 ● 誤差校正 ● 圖表顯示豐富的功能 ● 共振點跟蹤測量 ● 相對介電常數測量 ● 外部基準時鐘 ● 等效電路估算 ● 相對導磁率測量 ● 存儲器操作 ● 壓電常數計算 ● 比較器 / 處理器接口掃頻頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬 AC 振幅掃描 AC amplitude sweep 掃頻 Frequency sweep DC 偏置掃頻 DC bias sweep 零頻寬不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數，按恒定的條件進行測量，觀察不同時間的特性變化（橫軸：時間） ● 也能應對點測按恒定的頻率 /AC 振幅 /DC偏置進行測量，以數值顯示測量結果。最多可以設定 6 個項目。與比較器功能組合，可以進行篩選及判定是否合格。Also capable of spot measurements 生產線內的測量測量條件等的設定在 1 個界面內直觀地進行詳細設定設定項目（SETTING VIEW） Setting items (SETTING VIEW) 設定圖表軸 Graph axis setting 設定頻率 Frequency settings 量程自動量程監視測量結果，同時自動設定最合適的量程進行測量。檢測到超過量程的外部噪聲或直流分量時，重新設定為更大的量程并重新測量。測量數據的變化大時啟用。固定量程量程固定，因此不會產生因量程變化引發的測量值不連續（段差）。延遲功能如果在掃描過程中變更了頻率、AC 振幅等掃描參數，則瞬態響應將導致測量結果出現誤差。參數變更后，可以延遲開始測量的時間。延遲包括“延遲開始測量”和“延遲測量”，前者在開始測量時延遲，后者在掃描過程中每次變更參數時延遲。自動高密度掃頻在掃頻測量中，本功能限定在測量數據突變的區間自動提高頻率密度進行測量。在壓電振蕩器、晶體振蕩器等的共振特性測量中，本功能在相位急劇變化的共振附近的測量中啟用。誤差校正為進行準確的評價，需根據測量誤差因子進行校正。為進行準確的測量，需適當校正殘余阻抗、電纜長度等各種測量誤差因子。開路校正減少因殘余導納引起的誤差短路校正減少因殘余阻抗引起的誤差負載校正以具有已知值的試樣作為標準阻抗，校正與真值的偏差端口延長使用長電纜時，校正因傳輸延遲時間而產生的相位誤差電位梯度消除消除測量信號所含的電位波動波形的影響。在由于電池等的充放電會引起電位變化的試樣的測量中啟用補償預先測量連接到外部的傳感器、電纜等測量系統的頻率特性，校正測量系統的誤差成分輸入加權碼校正探頭的衰減量及前置放大器的增益自行校準校正自身誤差標記操作本功能用于讀取所顯示的圖表中 X、Y1、Y2 的測量值。最多可使用 8 個標記。 Δ標記　顯示與基準標記（標記 1）的差異 ΔTRKG 標記與Δ標記同樣顯示差異，移動到標記 1 時，保持恒定的掃描值差異，同時進行移動標記搜索功能可自動搜索與設定條件一致的點Marker search function 順序測量本功能預先設定多項所需的測量條件，按照該條件依次進行測量。最多可將掃描范圍分割成 32 部分，各范圍內按照不同的測量條件進行測量。可高效地測量因電壓值而使特性發生變化的多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器及變壓器等器件。圖表顯示 SINGLE 顯示 /SPLIT 顯示可選擇在 1 個畫面內顯示 1 個圖表的“SINGLE”和上下顯示 2 個圖表的“SPLIT” 相位顯示操作 ±180°、0°～＋360°、－360°～0°、UNWRAP（連續顯示）、 360°移位、孔徑（群延遲特性）跡線操作可改寫測量數據跡線（MEAS）和最多 8 條參照數據跡線（REF）自動存儲本功能在掃描測量結束后自動將 MEAS 跡線復制到 REF 跡線中。在隨時間而變化的特性觀測中啟用。 ● SPLIT 顯示 SPLIT display ● 自動存儲 Auto store 共振點跟蹤測量本功能在測量具有共振的試樣時，使測量頻率自動跟蹤試樣的共振頻率。即使試樣具有振幅依賴性或共振頻率隨時間變化而波動，也可以始終進行與共振頻率一致的測量。本功能便于在壓電元件的共振點附近進行連續測量。 RESONANT FREQUENCY TRACKING FUNCTION 共振頻率變化（1.6 kHz→1.5858 kHz）、自動跟蹤等效電路估算本功能將掃頻測量獲得的阻抗特性應用于等效電路模型，從而求出LCR 元件的值（電感值、電容值、電阻值）。準備有以下 6 種模型。等效電路估算結果可以用 CSV 格式保存。等效電路模型 Equivalent circuit model Equivalent circuit model 壓電常數計算本功能測量壓電陶瓷的頻率 - 阻抗特性，并計算機電耦合系數和壓電常數等。按照 JEITA 標準《EM-4501A　壓電陶瓷振蕩器的電氣試驗方法》規定的方法計算參數。測量結果顯示 Measurement results 常數計算畫面 Constant calculation 相對介電常數測量可以預先設定試樣尺寸等信息，將阻抗測量結果（Cp，Rp）換算為復相對介電常數進行顯示。 ● 相對介電常數 εs ● 相對介電常數實部 εs’ ● 相對介電常數虛部 εs” ● 損耗率 Dε εs’?εs” RELATIVE PERMITTIVITY MEASUREMENT εs?Dε RELATIVE PERMITTIVITY MEASUREMENT 相對導磁率測量可以預先設定試樣尺寸等信息，將阻抗測量結果（Ls, Rs）換算為復相對導磁率進行顯示。 ● 相對導磁率μs ● 相對導磁率實部 μs’ ● 相對導磁率虛部 μs” ● 損耗率 Dμ μs’?μs” RELATIVE MAGNETIC PERMEABILITY MEASUREMENT μs?Dμ RELATIVE MAGNETIC PERMEABILITY MEASUREMENT 比較器 / 處理器接口用于生產線! 測量速度最快 0.5 ms/point，縮短了節拍時間，并進一步完善了零件篩選功能!! 比較器功能針對測量結果預先設定判定范圍，為篩選試樣而進行分類以及判定是否合格。比較器設定畫面 Comparator setting screen 分類判定本功能最多可將判定結果分為14類。判定結果Bin sorting 極限判定本功能在已設定的范圍內判定測量結果是否合格。Limit sorting 區域判定本功能通過X軸(掃描參數)和Y1/Y2軸(測量結果)的2個維度判定掃描測量結果是否合格。Zone sorting 處理器接口可以將比較器的判定結果輸出到背面面板上配備的處理器接口連接器。通過連接零件處理器，可以構建零件的自動判別系統。Handler interface 外部基準時鐘外部的 10MHz 時鐘信號可以用作基準時鐘。通過使用精度高于內部基準時鐘的基準時鐘，可以提高測量頻率的精度和穩定性。此外，通過采用與其他儀器通用的基準時鐘，可以共享頻率精度。EXTERNAL REFERENCE CLOCK 配備于背面面板存儲器操作測量條件及測量數據可以保存到內存或 USB 存儲器中，也可以進行讀取。 ● 用于電化學阻抗特性測量配備用于測量各種電化學阻抗的功能，例如測量電池的內部阻抗等。 ● 可以從超低頻10μHz開始測量 ● 利用電位梯度消除功能，抑制充放電對電位變化測量的影響 ● 利用0° SYNC功能，在相位0°處變更測量頻率，使測量前后對試樣的電荷轉移量為零。 ● 利用測量同步驅動功能，僅在測量過程中輸出信號，從而將施加信號產生的電池負擔減輕到最小限度。

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