檢測認證人脈交流通訊錄
- OPTM 系列顯微分光膜厚儀 使用顯微光譜法在微小區域內通過絕.對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了 即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕.對反射率（多層膜厚度，光學常數） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外） 區域傳感器的安全機制 易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 測量項目： 絕.對反射率測量 多層膜解析 光學常數分析（n：折射率，k：消光系數） 顯微分光膜厚儀https://www.chem17.com/st469006/product_35599161.html http://www.boming021.com/Products-37821551.html
