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供應美國麥克全自動Χ光沉降粒度分析儀SediGraph III 5125

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品　　牌：
美國麥克儀器

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出廠價：
0 元/臺

主要規格：
SediGraph III 5120

用　　途：
材料研究

產品簡介 SediGraph?ⅢPlus 全自動X光沉降粒度分析儀 SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。久經考驗的技術和可靠性在過去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環境還是在專業的化驗室，SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。產品應用軟件和數據報告應用筆記、文獻和參考書目 ASTM 方法智能設計特色 SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性極高的結果。 ? 簡化泵系統，確保快速分析和易于維護 ? 降低噪聲，提供更加安靜的工作環境 ? 維護提醒裝置，根據總測試量，提示用戶進行定期維護 ? 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復性 ? Windows操作軟件，以太網連接，可進行點擊式選擇菜單，聯網工作，打印機選擇，剪切和粘貼等操作 ? 多功能和交互式報告系統，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）多項功能完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進行分析，包括粒徑大于300μm和小于0.1μm的部分能夠與其他粒徑測得的數據相結合，使數據報告范圍可擴展至125,000μm(125mm)，在地質學方面具有很好的應用自下而上地掃描沉降室，能夠準確的獲取沉降顆粒的總數，同時*小化顆粒分離所需的時間全自動操作模式能夠增加分析樣品總數，并且能夠減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質不發生任何變化，以獲取精確的分析結果多種分析速度，可根據實際需要選擇所需的速度和分辨率實時顯示，能夠監控當前分析的累積質量圖，以便根據需求立即修正分析程序統計過程控制（SPC）報告能夠跟蹤過程性能，便于立即對變化做出響應多圖疊加功能，能夠對分析結果進行可視化比較，例如：與參考樣品或基線疊加，或者將同一分析數據的兩種不同類型結果圖疊加數據比較圖，能夠提供兩套數據組（不同于參考圖）圖形顯示的數學差或某個數據點高于/低于誤差范圍的程度（指定圖以外）能夠使用同一臺計算機同時控制兩SediGraph，節約寶貴的實驗室空間，方便數據存儲

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廖映成

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