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STIL供 3D缺陷檢測儀器廠家多層玻璃厚度測量傳感器知名廠家

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品　　牌：
STIL

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出廠價：
1

主要規格：
齊全

用　　途：

STIL供 3D缺陷檢測儀器廠家多層玻璃厚度測量傳感器知名廠家 STIL duo ---雙重技術“點”傳感器提供兩種同時測量技術的系統：光譜共焦原理和具備原始共焦設置的白光干涉原理。 stil的光譜共焦原理可測量范圍從130μm到42mm。非常適用于粗糙度和表面形貌測量，在任何類型的材料上都可獲得非常高的精確度，無論是反射還是散射。測量符合新iso25178標準。 stil的共焦光譜干涉測量法，可獲得亞納米分辨率（<1nm）的厚度和形貌測量結果，可在大于100μm的測量范圍內進行測量，且樣品的可測厚度為0.4μm。完美適用于工業環境，許多輸入和輸出以及軟件開發套件，接口非常簡單。 stil duo白光光譜干涉模式：振動不敏感（opilb-rp光學筆）高信噪比（opilb-rp光學筆）不需垂直掃描可測厚度0.4μm 光學原理固有的亞納米分辨率共焦使相鄰點之間無干擾，厚度測量上具有卓越性能（0.3nm分辨率，10nm精度） stil duo光譜共聚焦模式使用multipeak軟件進行多層樣品測量司逖測量技術（上海）有限公司是法國stil公司在中國的銷售公司。法國stil公司為全球各行企業提供高性能的光譜共焦位移傳感器（chromatic confocal）已經超過20年。為應對公司在中國市場快速增長的需求，2016年stil成立了中國銷售公司，即司逖測量技術（上海）有限公司，公司在華東上海浦東新區及華南的東莞長安分別設有辦公室，兩地均交通便捷、物流發達，為中國客戶提供優質的售前及售后服務。作為光譜共焦傳感器的發明者及全球領先者，法國stil公司基于這一創新的技術開發了兩個系列的產品：從0.1μm到100mm測量行程的點光譜共焦傳感器、從1.8mm到45mm線長的不同測量行程的線光譜共焦傳感器。這些高分辨率的非接觸式傳感器運用于各種不同要求的高精密測量場合。從物體表面細微結構、形狀及紋理粗糙度的測量分析，到工業環境下的在線質量檢測、過程控制與逆向工程，及實驗室研究場合的高精度設備，法國stil光譜共焦傳感器都成了眾多客戶不可或缺的選擇。法國stil光譜共焦位移傳感器為全球各行業（可應用行業范圍：玻璃、醫療、電子、半導體、汽車、航空航天、制表業…等）企業提供高性能的光譜共焦位移傳感器。任何材料的物體，如金屬、玻璃、陶瓷、半導體、塑料、織物等，stil光譜共焦傳感器都可輕松測量，而且對被測物體表面的顏色和光潔度也沒有任何特殊要求，無論什么顏色，物體表面是漫反射或者高光面，乃至于鏡面，stil光譜共焦傳感器都可以輕松測量。

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鄭經理

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