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對應(yīng)法規(guī)：GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2 EIA-364-17 QC/T 4
CNAS認(rèn)可項目：是

高溫測試（高溫運行、高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時避免因濕度效應(yīng)影響試驗結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。高溫條件下試件的失效模式產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有： a. 填充物和密封條軟化或融化； b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減小； c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞； d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等； e. 材料膨脹造成機械應(yīng)力增大或磨損增大。高溫試驗?zāi)芰? GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》 IEC 60068-2-2:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B：高溫》 GJB150.3A-2009《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法高溫試驗》 GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》 MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》 GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗高溫試驗》 GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法方法108高溫壽命試驗 MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》 GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》 MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》 SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負(fù)荷試驗 SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗 GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》 QC/T 413-2002《汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件》 YD/T 1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術(shù)要求和測試方法》

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