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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005方法2002.1,半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997方法2016,電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009方法213,電連接器試驗(yàn)方法 GJB1217A-2009方法2004,半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 GB/T4937-1995第Ⅱ篇第4條,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) GB/T2423.5-1995 試驗(yàn)Ea
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