知識(shí)點(diǎn) | 溫度沖擊的典型問(wèn)題

什么是溫度沖擊？

溫度沖擊試驗(yàn)（Temperature Shock Testing）也稱(chēng)作熱沖擊試驗(yàn)（Thermal Shock Testing）或者溫度循環(huán)（Temperature Cycling），高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)。

溫度沖擊按照GJB 150.5A-2009 3.1的說(shuō)法，是裝備周?chē)髿鉁囟鹊募眲∽兓?，溫度變化率大?0度/min，即為溫度沖擊。MIL-STD-810F 503.4(2001)持相類(lèi)似的觀點(diǎn)。

溫度沖擊試驗(yàn)的目的：

工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和量產(chǎn)階段用于驗(yàn)證產(chǎn)品對(duì)溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性，為設(shè)計(jì)定型和量產(chǎn)驗(yàn)收決策提供依據(jù)；作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí)，目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。

溫度沖擊的應(yīng)用：

電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí)，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。

通電后設(shè)備中會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。

當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí)，人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過(guò)程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的。

溫度沖擊的效應(yīng)：

溫度沖擊通常對(duì)靠近裝備外表面的部分影響更嚴(yán)重，離外表面越遠(yuǎn)（當(dāng)然，與相關(guān)材料的特性有關(guān)），溫度變化越慢，影響越不明顯。運(yùn)輸箱、包裝等還會(huì)減小溫度沖擊對(duì)封閉的裝備的影響。急劇的溫度變化可能會(huì)暫時(shí)或永久地影響裝備的工作。

冷熱沖擊測(cè)試方法的類(lèi)型：

根據(jù)IEC和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，分為三種：

1、試驗(yàn)Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化；空氣；

2、試驗(yàn)Nb：規(guī)定變化速率的溫度變化；空氣；

3、試驗(yàn)Nc：兩液槽法快速溫度變化；液體；

以上3種試驗(yàn)，1、2以空氣作為介質(zhì)，第3種以液體（水或其它液體）作為介質(zhì)。1、2的轉(zhuǎn)換時(shí)間較長(zhǎng)，3的轉(zhuǎn)換時(shí)間較短。

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