三綜合測試為：溫度/濕度/震動(dòng)

三綜合試驗(yàn)設(shè)備設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008  高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006  濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009   軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009   軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009   軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)
* 選擇不同的振動(dòng)臺(tái)體可滿足不同的振動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
（例如：GB/T 2423.35-2005、GB/T 2423.36-2005等）。
 

三綜合試驗(yàn)箱;溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱;溫度/濕度/震動(dòng)/三綜合試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：-70-+150℃

溫度波動(dòng)度：±0.5℃（常壓，空載）

溫度均勻度：≤2℃（常壓，空載

溫度偏差：≤±2℃（常壓，空載）

升降溫速率：可選速度范圍：3℃/min-15℃/min(全程平均.-55-+80℃)

溫度范圍：20-98％RH

濕度偏差：-3-+2%R.H(75%R.H以上).±5%（75%R.H.以下）