原理

紅外光譜 IR,又稱傅立葉紅外光譜  FTIR ,利用分子中的化學(xué)鍵或官能團(tuán)可發(fā)生震動(dòng)吸收，不同的化

學(xué)鍵或官能團(tuán)吸收頻率不同，在紅外光譜上將處于不同位置，從而可獲得分子中含有何種化學(xué)鍵或

官能團(tuán)的信息。

儀器技術(shù)參數(shù)

信噪比：45000:1（峰、峰值）；采樣速率：80張譜／秒（16cm-1譜分辨率）；測(cè)量譜

區(qū)：25,000 ～ 20cm-1。

送樣要求

>50mg，固體，液體，粉狀，膜狀物（對(duì)全反射模式）。

應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用于合成中間體，天然產(chǎn)物，醫(yī)藥原料，金屬有機(jī)配合物，合成橡膠，高分子材料表征.包括測(cè)試

化合物的官能團(tuán),鑒定化學(xué)物的特性,比較配方或者產(chǎn)品之間的差異。

常見(jiàn)適用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 7764-2001   GB/T 6040-2002

STM E1252-88 紅外定性分析一般技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)通則；

JIS K0117-79(84) 紅外分光分析方法通則；

JY/T 001-1996 付里葉變換紅外光譜法通則；

 專業(yè)、高效、精準(zhǔn)、高性價(jià)比是廣州化聯(lián)質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)有限公司的服務(wù)宗旨。

廣州化聯(lián)質(zhì)檢測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目表

1、XPS（可做刻蝕XPS；UPS價(jià)帶譜）
2、TEM（普通形貌、高分辨透射電鏡；可測(cè)磁性樣品TEM）
3、SEM（場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡；可測(cè)磁性樣品SEM，可噴金）
4、BET（可測(cè)介孔、微孔材料比表面、孔容及孔徑分布等全套分析，也可做水蒸汽、有機(jī)氣體等蒸汽吸附）
5、XRD（廣角XRD、小角XRD、掠入射XRD及原位XRD均可）
6、AFM（原子力顯微鏡：塊體、粉末及液體樣品均可做）
7、EPMA（電子探針測(cè)試，點(diǎn)、線、面均可測(cè)試）
8、TPD（NH3-TPD,CO2-TPD,CO-TPD）
9、TPR（H2-TPR）
10、TG-DSC（低溫、高溫均可測(cè)試、有多種氣氛），TG-DTA
11、PPMS（可測(cè)變溫電阻率RT曲線等）
12、MPMS（VSM可測(cè)磁帶回線MH曲線、磁化率曲線MT曲線）
13、ICP（ICP-MS，ICP-OES，可精確測(cè)量多種元素含量，可達(dá)ppb級(jí)，）
14、ESR（ESR.EPR電子順磁測(cè)試，低溫、常溫、高溫ESR均可做）
15、介電常數(shù)（變溫介電常數(shù)）、熱電性能（塞貝克系數(shù)等）、鐵電性能測(cè)試
16、CLSM 激光共聚焦掃描顯微鏡
17、3D輪廓儀，臺(tái)階儀
18、馬爾文激光粒度儀（干法、濕法）
19、GPC（THF，DMF，氯仿相GPC，水相GPC，高溫GPC）
20、壓汞測(cè)試
21、TG-IR
22、GC-MS/LCMS
23、GPC（THF，DMF，CHCL3，水相）
24、核磁
25、質(zhì)譜

26、元素分析（CHNSO）

27、Ramnm拉曼光譜

28、納米粒度儀

29、TOC測(cè)試儀

30、水分檢測(cè)儀
還可提供：導(dǎo)熱系數(shù)、熱膨脹系數(shù)、塞貝克系數(shù)、電導(dǎo)、固體紫外（紫外漫反射），紅外(有ATR配件），熒光PL、拉曼（多種激發(fā)波長(zhǎng)）等測(cè)試