鹽霧試驗是一種主要利用鹽霧試驗設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。它分為二大類，一類為天然環(huán)境暴露試驗，另一類為人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗。人工模擬鹽霧環(huán)境試驗是利用一種具有一定容積空間的試驗設(shè)備——鹽霧試驗箱，在其容積空間內(nèi)用人工的方法，造成鹽霧環(huán)境來對產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能質(zhì)量進(jìn)行考核。它與天然環(huán)境相比，其鹽霧環(huán)境的氯化物的鹽濃度，可以是一般天然環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍，使腐蝕速度大大提高，對產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗，得出結(jié)果的時間也大大縮短。如在天然暴露環(huán)境下對某產(chǎn)品樣品進(jìn)行試驗，待其腐蝕可能要1年，而在人工模擬鹽霧環(huán)境條件下試驗，只要24小時，即可得到相似的結(jié)果。

    腐蝕是材料或其性能在環(huán)境的作用下引起的破壞或變質(zhì)。大多數(shù)的腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中，大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。鹽霧腐蝕就是一種常見和最有破壞性的大氣腐蝕。 鹽霧對金屬材料表面的腐蝕是由于含有的氯離子穿透金屬表面的氧化層和防護(hù)層與內(nèi)部金屬發(fā)生電化學(xué)反應(yīng)引起的。同時，氯離子含有一定的水合能，易被吸附在金屬表面的孔隙、裂縫排擠并取代氧化層中的氧，把不溶性的氧化物變成可溶性的氯化物，使鈍化態(tài)表面變成活潑表面。

試驗標(biāo)準(zhǔn)

鹽霧試驗標(biāo)準(zhǔn)是對鹽霧試驗條件，如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等做的明確具體規(guī)定，另外還對鹽霧試驗箱性能提出技術(shù)要求。同種產(chǎn)品采用哪種鹽霧試驗標(biāo)準(zhǔn)要根據(jù)鹽霧試驗的特性和金屬的腐蝕速度及對鹽霧的敏感程度選擇。下面介紹幾個鹽霧試驗標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T2423.17—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka：鹽霧試驗方法》，GB/T2423.18—2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》，GB5938—86《輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的耐腐蝕試驗方法》，GB/T1771—91《色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測定》。

鹽霧測試標(biāo)準(zhǔn)總結(jié)：
ISO 7253-1996(涂料)
BS 3900-F12-1997(涂料)
BS 7479:1991
IEC 60068-2-11:1981
GB/T 10125-1997(涂料)
GB 2423.17-2008
DIN 50021-1988

酸性鹽霧測試標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM B368-09
ISO 9227-2006
DIN 50021-1988
BS 7479:1991

銅離子加速鹽霧測試標(biāo)準(zhǔn)
ASTM B368-09
ISO 9227-2006
DIN 50021-1988
BS 7479:1991

循環(huán)鹽霧測試標(biāo)準(zhǔn)
ASTM D6899-2003
ASTM G85-02e1 Annex A5
ISO 11997-1:2005
ISO 11997-2:2000
SAE J2334:2002
WSK-M2G299
GM4298P
GM4476P
GM9540P

    試驗周期

    試驗的時間，應(yīng)按被試覆蓋層或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的要求而定；若無標(biāo)準(zhǔn)，可經(jīng)有關(guān)方面協(xié)商決定。推薦的試驗時間為：2，6，16，24，48，96，240，480，720h。在規(guī)定的試驗周期內(nèi)，噴霧不得中斷。只有當(dāng)需短暫觀察試樣時，才能打開鹽霧箱。如果試驗終點取決于開始出現(xiàn)腐蝕的時間，試樣需要經(jīng)常檢查。因此這些試樣不能同已有預(yù)定試驗周期的試樣一起試驗。對預(yù)定周期的試驗，可按上述周期進(jìn)行檢查。但在檢查過程中，不能破壞試面。開箱檢查試樣的時間，應(yīng)盡可能短。

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