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實驗目的 為了考核低溫對試樣的影響,確定試樣在低溫條件下存儲的適應性。該實驗一般用到高低溫 試驗箱。 實驗原理 低溫下電子元器件的電參數會發生變化、材料變脆及其材料冷縮產生應力等。使電子元器件 處于低溫環境下一定時間,考核電子元器件的電參數是否發生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產生應力有多大等,從而確定電子元器件的抗低溫能力。 實驗參考標準 JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011
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