各類的電子產(chǎn)品或設(shè)備，其在使用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生不必要的高頻無(wú)線電波，這種無(wú)線電波往往會(huì)經(jīng)由電源線，或以輻射電磁波的方式，散布出去，因此滲入或被周遭的其它電子產(chǎn)品設(shè)備接收到，而影響其正常功能的運(yùn)作。也就是“電磁污染”，而這種污染的問(wèn)題，并非在現(xiàn)今才有，只因?yàn)殡S著科技的進(jìn)步，電子產(chǎn)品的日益增加，電子設(shè)備的數(shù)量與日俱增且使用的密集程度越來(lái)越高，電磁兼容的重要性乃受到普遍關(guān)注。

電磁兼容性 electromagnetic compatibility（EMC）
設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。

電磁干擾 electromagnetic interference（EMI） 電磁騷擾引起的設(shè)備、傳輸通道或系統(tǒng)性能的下降。

電磁敏感性 electromagnetic susceptibility (EMS) 在存在電磁騷擾的情況下，裝置、設(shè)備或系統(tǒng)不能避免性能降低的能力。 注：敏感性高，抗擾性低。EMC = EMI + EMS

EMC:
  傳導(dǎo)測(cè)試(Power Line Conducted Emission Test)
  空間輻射測(cè)試(Radiated Emission Test)
  功率輻射測(cè)試(Power Disturbance Test)
  諧波電流測(cè)試(Harmonic Current Emission Test)
  電壓閃爍&波動(dòng)測(cè)試(Voltage Fluctuations & Flicker Test)
  靜電放電測(cè)試(Electrostatic Discharge Test)
  輻射耐擾度測(cè)試(RF Field Strength Susceptibility Test)
  電快速脈沖群測(cè)試(Electrical Fast Transient/Burst Test)
  浪涌測(cè)試(Surge Test)
  傳導(dǎo)耐擾度測(cè)試(Injected Currents Susceptibility Test)
  工頻磁場(chǎng)測(cè)試(Magnetic Field Immunity Test)
  電壓跌落測(cè)試(Voltage Dips And Interruptions Test)  

典型試驗(yàn)場(chǎng)地：10米電波暗室

采用Boresight雙天線測(cè)試技術(shù)，測(cè)試頻率為9KHz-40GHz，三相或單相測(cè)試電流量最大容量可達(dá)交（直）流600A， 轉(zhuǎn)臺(tái)最大可承重3.5噸； 屏蔽效能， 歸一化場(chǎng)地衰減， 場(chǎng)均勻性， 場(chǎng)地電壓駐波比和背景噪聲都能很好地滿足標(biāo)準(zhǔn)的要求。