C-SAM是利用超聲波脈沖探測(cè)樣品內(nèi)部空隙等缺陷的儀器，主要用于觀察組件內(nèi)部的芯片粘接失效、分層、裂紋、夾雜物、空洞等。是一項(xiàng)非破壞性的檢測(cè)組件的完整性，內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的內(nèi)部情況的測(cè)試，作為無(wú)損檢測(cè)分析中的一種，它可以實(shí)現(xiàn)在不破壞物料電氣能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對(duì)物料進(jìn)行檢測(cè)。被廣泛的應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。

掃描模式

?傳輸時(shí)間測(cè)量模式(A-Scan)

?表面及橫向截面掃描模式(C-Scan)

?縱向截面成像模式(B-Scan)

?透射掃描(T-Scan,限15MHz/30MHz探頭)

參考標(biāo)準(zhǔn)：

IPC/JEDEC J-STD-035 1999

深圳市中天檢測(cè)技術(shù)有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)ＺＴＴ）是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測(cè)試、檢驗(yàn)與驗(yàn)證并具有第三方公正地位的專(zhuān)業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)室已取得中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書(shū)（CNAS）、國(guó)家計(jì)量資質(zhì)認(rèn)定證書(shū)（CMA ）和國(guó)際運(yùn)輸安全協(xié)會(huì)認(rèn)證(ISTA )，實(shí)驗(yàn)室依照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行，具備向社會(huì)出具公正性檢測(cè)報(bào)告的資格。

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