TEM原理

透射電子顯微鏡（縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角 散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。

儀器技術參數

　　- TWIN物鏡系統, 點分辨率 0.27nm

　　- 樣品最大傾角 +/- 70°

　　- Cryo液氮冷凍樣品臺及冷凍轉移設備

　　- 全自動化的數據采集和數據處理系統

送樣要求

粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.

應用領域

金屬、非金屬及復合材料的觀察分析；

納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量統計；

微區成分的定性、定量計算，并對重點區域做元素分布圖；

可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結合情況觀察和厚度測量；

機械設備、壓力容器、管道及汽車零件的失效分析。

適用標準

專業、高效、精準、高性價比是劑拓公司的服務宗旨。

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