汽車芯片IC、集成電路車規(guī)AEC-Q100認證

AEC-Q100認證是什么？

       IC作為重要的車載元器件部件，是AEC委員會持續(xù)關注的重點領域。AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應商、封測廠配合完成，這更加考驗對認證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證。

      如果成功完成根據(jù)本文件各要點需要的測試結果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q100 認證。供應商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現(xiàn)的時候才能認為零件通過了AEC Q100 認證。

AEC-Q100認證的要求及目的

測試樣品：

1）批次要求：測試樣品應該由認證家族中有代表性的器件構成，由于缺少通用數(shù)據(jù)就需要有多批次的測試，表1 中列出的測試樣品必須是由非連續(xù)晶圓批次中近似均等的數(shù)量組成，并在非連續(xù)成型批次中裝配。即樣品在生產(chǎn)廠里必須是分散的，或者裝配加工線至少有一個非認證批次；

2）生產(chǎn)要求：所有認證器件都應在制造場所加工處理，有助于量產(chǎn)時零件的傳輸。其他電測試場所可以在其電性質證實有效后用于電測量。

3）測試樣品的再利用：已經(jīng)用來做非破壞性認證測試的器件可以用來做其他認證測試，而做過破壞性認證測試的器件則除了工程分析外不能再使用；

4）樣品尺寸要求

      用于認證測試的樣品尺寸與（或）提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的最小樣品尺寸和接受標準相一致。如果供應商選擇使用通用數(shù)據(jù)來認證，則特殊的測試條件和結果必須記錄并對使用者有可用性。現(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應首先滿足這些要求和表1的每個測試要求。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求，就要進行器件特殊認證測試。

5)預前應力測試和應力測試后要求：表1中的附加要求欄為每個測試指定了終端測試溫度（室溫、高溫和低溫）。溫度特殊值必須設有最差情況，即每個測試中用至少一個批次的

通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來設置溫度等級極端。

6）應力測試失效后的定義：

      測試失效定義為設備不符合測試的器件規(guī)范和標準規(guī)范，或是供應商的數(shù)據(jù)表，任何由于環(huán)境測試導致的外部物理破壞的器件也要被認為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認為是非正確運轉、靜電放電或一些其他與測試條件不相關的原因，失效就算不上，但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報。

AEC-Q100試驗后元器件失效分析項目：

① 形貌分析技術：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

② 成分檢測技術：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、色譜、質譜

③ 電分析技術：I-V曲線、半導體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

④ 開封制樣技術：化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。

⑤ 缺陷定位技術：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。

AECQ100認證測試、報告周期：

3-4個月，提供全面的認證計劃、測試、報告等服務。

AECQ100測試地點：

廣電計量廣州總部、廣電計量上海試驗室。

      廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）是原國家信息產(chǎn)業(yè)部軍工電子602計量測試站，通過國家實驗室（CNAS）、國防實驗室（DILAC）和總裝實驗室認可，并通過中國計量認證（CMA），是中國CB實驗室，建立企業(yè)計量最高標準80多項，通過CNAS、DILAC認可項目1000多項。

      廣電計量失效分析實驗室AEC-Q技術團隊，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。

車載芯片、集成電路AEC-Q100認證測試：

李紹政（業(yè)務經(jīng)理） 138-0884-0060（微信同號）

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