這真不是您需要的服務？
直接提問 | 回首頁搜
場發射掃描電鏡(Hitachi S4800)場發射透射電鏡(FEI Tecnai G2 F30)
微觀結構分析包括結構的形貌形態、以及形成這些結構或形貌的元素組成。可以運用掃描電鏡或透射電鏡來實現這些目標。在透射電鏡下，運用電子衍射、能譜分析等手段可以獲得微觀區域物相的結構。
對于某些材料的端口分析可以了解材料的斷裂性質，以及微觀斷裂機制，用于失效分析。
具體的服務項目有：表面形貌、元素成分分析(能譜EDS)、微米長度測量、納米長度測量、鍍層涂層厚度分析、組織結構分析、失效分析。
請點擊查看電話
關于檢測通 | 服務項目 | 合作中心 | 資訊投稿 | 媒體聚焦 | 聯系我們 | 客服中心 | 網站地圖 | 友情鏈接
Copyright ? 2010-2016 生意寶檢測通 版權所有.浙ICP備14007955號 浙公網安備 33010602010408號
地址：浙江省杭州市莫干山路187號易盛大廈12F 郵政編碼：310012
客服QQ:2804879579 檢測通QQ群:檢測資源-詢盤、人脈 319379593
檢測認證人脈交流通訊錄
