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機(jī)構(gòu)登錄

主要技術(shù)指標(biāo):點(diǎn)分辨率:0.24 nm,晶格分辨:0.102 nm,信息分辨率:0.14 nm, STEM分辨率:0.20 nm EDS(能譜儀)能量分辨率:<127 eV,元素范圍:Be-Cf
功能/應(yīng)用范圍:納米材料,催化材料,高分子材料,介微孔材料以及相應(yīng)的復(fù)合材料的形貌觀察,成分分析和高角環(huán)形暗場像(Z襯度像)的觀察。
主要測試和研究領(lǐng)域:石油/化工材料/珠寶首飾